تحلیل تاثیرپذیری الکترومغناطیسی خطوط ریزنوار ابررسانا در تابش مایل

نویسندگان

1 دانشیار، گروه مهندسی برق و الکترونیک، دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه شاهد، تهران، ایران

2 دانشجوی دکتری، گروه مهندسی برق و الکترونبک، دانشگاه شاهد، تهران، ایران

doi
چکیده

مدارهای مایکروویو ابررسانا از عنصرهایی متشکل از خطوط انتقال ابررسانا ساخته می‌شوند. هر چند که ابررساناها عملکرد سامانه‌ را در سرعت بالا و کف نویز پایین فراهم می‌کند، اما تزویج میدان‌ الکترومغناطیسی خارجی به آن‌ها می‌تواند در عملکرد این سیستم‌ها اختلال به‌وجود آورد. در این مطالعه ابتدا در حوزه طیفی یک رهیافت کلی جهت تحلیل رفتار الکترومغناطیسی ساختارهای ابررسانا در زوایای تابش مختلف ارائه می‌شود. سپس به کمک روش ارائه شده، تاثیرپذیری خطوط ریزنوار ابررسانا در تابش مایل مورد بررسی قرار می‌گیرد. این بررسی اثر ضخامت فیلم ابررسانا بر تاثیرپذیری خط را شامل می‌‌‌شود. مطابق با نتایج حاصل شده، بیشینه‌ حساسیت‌پذیری برای تمام ضخامت‌ها با توجه به طول معمول به‌کار رفته در مدارات، در تابش با زاویه 80 درجه اتفاق می‌افتد اما مقدار آن برای ضخامت‌های مختلف متفاوت است. رفتار متفاوت جریان القایی در ضخامت‌های مختلف به‌علت تفاوت در امپدانس معادل ساختار است. همچنین از آنجا که برای فیلم‌های نازک راکتانس معادل بیشتر است، میزان حساسیت‌پذیری کمتر می‌گردد.