مقایسه منحنیهای تفکیک مواد حاصل از چهار الگوریتم Log-Log، R-T، r-θ و α2-α1 در یک سیستم تصویربرداری دو انرژی
نویسندگان
1 سمنان، دامغان، دانشگاه دامغان، دانشکده فیزیک
2 تهران، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، دانشکده فیزیک
3 سمنان، دامغان، دانشگاه دامغان، دانشکده فیزیک
doi
10.22052/9.4.23چکیده
تصویربرداری پرتوی ایکس دو انرژی یکی از فناوریهای بازرسی مهم در تصویربرداری از محمولههای بزرگ برای یافتن مواد غیرقانونی ازقبیل مواد منفجره، مواد مخدر، اسلحهها و ... است. ویژگی مفید تصویربرداری پرتوی ایکس دو انرژی، امکان شناسایی و تفکیک مواد با اعداد اتمی متفاوت است که این امر با تصویربرداری از محمولههای بزرگ در دو انرژی متفاوت پرتو ایکس (معمولاً بالای MeV 3) صورت میگیرد. در این پژوهش، ابتدا یک سیستم تصویربرداری پرتوی ایکس دو انرژی شامل چشمههای پرتو ایکس، موازیساز و آرایه آشکارساز با استفاده از کد MCNPX شبیهسازی شده است. سپس دادههای حاصل از این سیستم تصویربرداری برای چهار گوه پلهای از جنسهای گرافیت، آلومینیوم، استیل و سرب جمعآوری شده و منحنیهای تفکیک مواد با استفاده از چهار الگوریتم Log-Log، R-T، r-θ و α2-α1 بهدست آمده است. نتایج حاصل نشان میدهد که از بین الگـوریتمهای پیشنهادی برای تفکیک مواد، الگوریتمهای R-T، r-θ و α2-α1 دارای عملکرد بهتـری هستند و الگـوریتم R-T با توجه به همپوشانی کمتر منحنیهای تفکیک مواد برای ضخامتهای پایین نمونهها، میتواند انتخاب مناسبتری برای بهدست آوردن منحنیهای تفکیک مواد در سیستمهای تصویربرداری دو انرژی باشد.