اندازهگیری ضریب تضعیف خطی کامپوزیتهای تقویتشده با مواد نانو مورد استفاده در حفاظ سازی
نویسندگان
1 دانشگاه شیراز
2 دانشگاه شیراز
3 دانشگاه شیراز
4 دانشگاه شیراز
5 دانشگاه شیراز
doi
چکیده
استفاده از پرتوهای اشعه ایکس در صنایع مختلف و بهخصوص در کاربردهای پزشکی در حال افزایش است. در این راستا طراحی مواد محافظ سبک و کارآمد بر پایه نانو کامپوزیتهای پلیمری و مطالعه دقیق تأثیر افزودن نانو ذرات با اندازههای مختلف در پلیمرها بر تضعیف اشعه ایکس ضروری به نظر میرسد. در این تحقیق نانو کامپوزیتهای اپوکسی با درصدهای مختلف نانو ذرات اکسید مس (5 و 10 درصد وزنی) تولیدشده و تأثیر پارامترهای مختلف ازجمله انرژی پرتوهای اشعه ایکس و ضخامت نمونهها بر تضعیف اشعه ایکس موردمطالعه قرار گرفت. برای این منظور نمونههای نانو کامپوزیتی در معرض اشعه ایکس مشخصه keV 25.27 و keV 28.49 ناشی از قلع قرارگرفته و ضریب تضعیف خطی نمونهها با استفاده از طیف نگار نیمههادی HPGe اندازهگیری شد. همچنین نحوه توزیع نانو ذرات درزمینه اپوکسی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی موردبررسی قرار گرفت. نتایج آزمون اشعه ایکس نشاندهنده تفاوت قابلتوجه توانایی اپوکسی در تضعیف اشعه ایکس با افزودن نانو ذرات میباشد. همچنین تصاویر میکروسکوپی توزیع مناسب نانو ذرات درزمینه اپوکسی حتی در درصدهای بالا را نشان میدهد.