فهرست نشریات علمی دسترسی آزاد ایران

روش پالس ادی‌کارنت به‌طور متداول برای تشخیص عیوب زیرسطحی در فلزات رسانا به کار می‌رود. با این حال به‌دلیل عمق نفوذ محدود ادی‌کارنت، کاربرد پالس ادی‌کارنت برای تشخیص عیوب زیرسطحی در فلزات فرومغناطیس محدود است. به‌منظور تعمیم کاربرد پالس ادی‌کارنت برای تشخیص عیوب زیرسطحی در فلزات فرومغناطیس، عمق نفوذ ادی‌کارنت باید افزایش یابد. برای دست‌یابی به عمق نفوذ بالا اشباع مغناطیسی قطعه تحت آزمون راه حل مفیدی است. در حالت اشباع مغناطیسی، پرمابلیته مغناطیسی فلز فرومغناطیس کاهش یافته و یکنواخت می‌شود و در نتیجه عمق نفوذ ادی‌کارنت در ماده افزایش می‌یابد. در این مقاله از طریق مدل‌سازی المان محدود و آزمون‌های آزمایشگاهی، عملکرد روش پالس ادی‌کارنت برای تشخیص عیوب پیتینگ زیرسطحی در قطعه مغناطیس‌شده بررسی می‌شود. قطعه تحت آزمون، یک صفحه فولادی با ضخامت ۱۰میلی‌متر است و در آن عیوب پیتینگ زیرسطحی با عمق‌های متفاوت ایجاد شده‌اند. پروب پالس ادی‌کارنت شامل کویل تحریک، کویل تشخیص و هسته فریتی بوده و برای به‌دست‌آوردن سیگنال‌های زمانی استفاده می‌شود. سپس ویژگی‌های زمانی از سیگنال‌های تفاضلی پالس ادی‌کارنت استخراج شده و برای تشخیص پیتینگ‌های زیرسطحی استفاده می‌شوند. نتایج نشان می‌دهد که روش پالس ادی‌کارنت همراه با اشباع مغناطیسی می‌تواند به‌طور موثری عیوب پیتینگ زیرسطحی را تشخیص دهد.