فهرست نشریات علمی دسترسی آزاد ایران

تابش سینکروترون، از یک نور قطبی و موازی با درخشندگی خیلی زیاد و شدت بالا تشکیل شده است که شامل ­­­گسترۀ وسیعی از طول موج­ها، از فروسرخ تا پرتوهای X پرانرژی است. در این مقاله خلاصه‌ای از کاربرد‌‌­­­‌‌‌های تابش سینکروترون در طیف‌سنجی‌ و تصویربرداری به کمک پرتو X، ارائه شده است. این کاربرد‌ها شامل پراش پرتو X مواد پودری (XRPD)، پراکندگی پرتو ایکس در زوایای بزرگ (WAXS)، پراکندگی پرتو ایکس در زوایای کوچک (SAXS)، فلورسانس پرتو X (XRF)، بازتاب­سنجی پرتو X (XRR)، جذب لبۀ نزدیک ساختار ظریف پرتو X (NEXAFS)، جذب لبۀ نزدیک ساختار پرتو X (XANES)، طیف‌سنجی فوتوالکترونی پرتو X (XPS)، طیف‌سنجی نشری پرتو X (XES) و تصویر‌برداری به کمک پرتو X است. این تکنیک­ها، برای مشخصه­یابی انواع ساختارهای مواد مختلف در اندازه­های میکرو و نانو توانایی بالایی دارند. علاوه بر این، استفاده از این فناوری‌ها مزیت‌هائی مانند صحت بیشتر اندازه­گیری­ها، بهبود نسبت "علامت به نوفه"، تفکیک فضایی بهتر و  سرعت بیشتر جمع آوری داده­ها دارد.