بررسی خواص اپتیکی فیلم نازک ZnS به روش تبخیر در خلاء (PVD)

نویسندگان

1 دانشگاه بین‌المللی امام خمینی قزوین

2 دانشگاه بین‌المللی امام خمینی قزوین

doi
چکیده

لایه‌های نازک ZnS در دو دمای مختلف زیر لایه 25oC و 200oC و در ضخامت‌های مختلف 100nm-600nm بر روی زیرلایه شیشه به روش تبخیر در خلاء لایه‌نشانی شدند. طیف جذب و عبور برای تعیین گاف انرژی، ضریب جذب و ثابت خاموشی نمونه‌ها تهیه گردید. از بررسی این طیف‌ها مشخص شد که با کاهش دمای زیر لایه گاف اپتیکی نمونه‌ها کاهش وبا کاهش ضخامت آنها گاف اپتیکی افزایش می‌یابد. این پدیده می‌تواند به اثر کوانتمی سایز ذرات نسبت داده شود.