ساخت و بررسی نمونههای حجمی و لایه نازک فریت استرانسیوم
نویسندگان
1
2
3
doi
چکیده
در این مقاله نمونههای حجمی و لایههای نازک فریت استرانسیوم مورد مطالعه قرار گرفتهاند. بزرگ بودن مقاومت ویژه در فریت استرانسیوم، تلفات ناشی از جریانهای گردابی را کاهش داده و به همین جهت، میتوان از آن در مدارهای مغناطیسی مخصوص فرکانسهای بزرگ، استفاده کرد. از طرف دیگر خاصیت مغناطیسی دائم فریت استرانسیوم نیز بسیار مورد توجه است. در ابتدا به فرآیند تهیه نمونههای حجمی فریت استرانسیوم به روش حالت جامد میپردازیم. برای به دست آوردن خواص مغناطیسی بهتر، در ساخت نمونهها از عامل استوکیومتری (n) یعنی نسبت / SrO 3 O 2 Fe به مقدار 25/5 استفاده شد. برای کنترل رشد دانهها در ساختار نمونهها از افزودنیهای CaO و 2 SiO استفاده کردیم. نمونهها به دو صورت همسانگرد و ناهمسانگرد تهیه شدند. برای تهیه نمونههای ناهمسانگرد از میدان مغناطیسی حدود T 1 برای جهت دهی دانهها در حین پرس نمونهها، استفاده شده است. سپس به منظور بررسی و مقایسه خواص ساختاری و مغناطیسی نمونههای همسانگرد و ناهمسانگرد از پراش پرتو x ، میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و تحلیل EDAX و مغناطیس سنج استفاده شد. نتایج نشان میدهند که در اثر اعمال میدان، خواص ساختاری و مغناطیسی نمونههای ناهمسانگرد به طور قابل ملاحظه، بهبود مییابد که دلیل آن چرخش ذرات در اثر اعمال میدان، هنگام پرس کردن نمونه است. در مرحله بعد با استفاده از نمونههای حجمی، لایههای نازک فریت استرانسیوم را به روش تپش لیزری (PLD) تهیه کردیم. در تهیه لایه نازک از زیرلایه (111) Si استفاده شد. سپس بررسی ساختار لایهها را توسط پراش پرتو x ، میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و تحلیل EDAX انجام دادیم. این بررسیها روی نمونههای مختلف نشان دادکه برای تشکیل فاز بلوری فریت استرانسیوم باید دمای زیرلایه بالاتر از ˚ C 800 انتخاب شود. شرایط بهینه برای ساخت لایههای نازک فریت استرانسیوم، در دمای زیر لایه ˚C 840 و فشار اکسیژن mtorr 75 به دست آمد.