فهرست نشریات علمی دسترسی آزاد ایران

  در این تحقیق، سیستم لایه نازک 2 Ag-SiO با غلظتهای مختلف نقره (2/0%، 4/0%، 6/1% و 8%) بر سطح زیرلایه soda-lime ساخته شدند. پس از مرحله پخت نمونه‌ها، بررسی خواص فیزیکی و شیمیایی لایه‌های نازک سیلیکا (2 SiO ) حاوی نانوذرات نقره، توسط اندازه‌گیریهای اپتیکی برای تعیین خواص نوری لایه‌ها، توپوگرافی و ریزساختار نمونه‌ها توسط میکروسکوپ نیروی اتمی ) (AFM و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ، اندازه‌گیری دقیق سایز نانوذرات نقره و توزیع آنها در سطح وحجم لایه‌ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) انجام شد. بر اساس تحلیل نتایج به‌دست آمده از روشهای مذکور، بدون انجام عملیات حرارتی مناسب، نانوذرات نقره در غلظتهای خیلی کم نقره (2/0%) و یا خیلی زیاد آن (8%) تشکیل نمی‌شوند، بلکه با در نظر گرفتن غلظت اولیه نقره در یک ناحیه میانی این امر صورت می‌گیرد. در واقع نانوذرات Ag در این غلظتهای حدی در دمای پخت ˚C 2 00 تشکیل می‌شود. همچنین بر اساس مشاهدات TEM ، حداقل متوسط اندازه ذرات سنتز شده، برای غلظت 2/0% نقره در حدود nm 4 تعیین گردید.