فهرست نشریات علمی دسترسی آزاد ایران

در این نوشتار مقدمه ای بر روش کارآمد و در حال تکامل (EBSD) Electron Backscattered Diffraction ارایه می‌شود. روش پراش الکترون‌های به عقب رانده شده(EBSD) توانایی‌های قابل‌توجهی در بررسی‌کمی و کیفی ریزساختار دارد. توسعه EBSDبتازگی مورد توجه وسیع صنایع و مراکز پژوهشی قرار گرفته، به گونه‌ای‌که به روش اصلی بررسی ریزساختار در بسیاری از این مراکز تبدیل شده است. این روش در محاسبه جهات بلوری ریزساختارها (Nano and Microstructures)، تشخیص فاز و میزان توزیع فازها کاربرد دارد. شواهد اولیهEBSD در سال 1928 در میکروسکوپ الکترون عبوری(TEM) دیده شد و تا به امروز پیشرفت‌های شایانی در بهبود تصویر و استخراج داده‌ها صورت گرفته است. از آن جمله می‌توان به توسعه سخت افزار، تهیه نرم افزارها، ابداع روش‌های مشاهده تصویر و کمیت‌سازی ریزساختار اشاره کرد. اصول،تاریخچه،کاربردها و چندین مثال کاربردی ازEBSDد در این نوشتار ارایه می‌شوند.