تکنولوژی نوین آزمون غیرمخرب با استفاده از امواج تراهرتز
نویسندگان
1 دانشگاه کاشان، دانشکده فیزیک، گروه لیزر و فوتونیک
2 دانشگاه شهید بهشتی، موسسهی تحقیقات لیزر و پلاسما
3 سازمان انرژی اتمی ایران، شرکت سوخت راکتورهای هستهای، صندوق پستی: 1957-81465
4 سازمان انرژی اتمی ایران، شرکت سوخت راکتورهای هستهای، صندوق پستی: 1957-81465
5 دانشگاه کاشان، دانشکده فیزیک، گروه لیزر و فوتونیک
6 سازمان انرژی اتمی ایران، شرکت سوخت راکتورهای هستهای، صندوق پستی: 1957-81465
doi
10.30494/jndt.2019.85335چکیده
در این پژوهش امکان ارزیابی مواد به صورت غیر مخرب با استفاده از امواج تراهرتز بررسی شد. برای این منظور نتایج حاصل از تعیین ابعاد عیوب مشخص روی نمونه-های الگوی ساخته شده از جنس آلومینیوم، پلکسی گلاس و سرامیک دی اکسید زیرکونیوم با نتایج حاصل از اندازهگیریهای ابعادی با روشهایی نظیر ماشین اندازه-گیری مختصات، میکروایکس و ماشین اندازهگیری مرئی مقایسه گردید. جهت انجام پژوهش، بسته به ماهیت نمونه و اطلاعات مورد نیاز از دو چیدمان سیستم تصویربرداری تراهرتز عبوری و انعکاسی بر پایهی سیستم طیف سنجی حوزهی زمانی تراهرتز استفاده شد که در آن تولید و آشکارسازی پالسهای امواج تراهرتز با استفاده از یک لیزر فمتوثانیه انجام میشود. نتایج نشان داد آزمون غیرمخرب تراهرتز در تشخیص عیوب (عیوب سطحی بسیار کم عمق و عیوب مخفی در بافت نمونه) و اندازهگیریها برتر از برخی روشهای متداول ذکر شده است. در مجموع بسته به انتظار از آزمون و نوع عملکرد آن، روش تصویربرداری با امواج تراهرتز را میتوان جزو آزمونهای غیرمخرب قابل رقابت با روش های متداول دانست.
