روش تصویرسازی سریع مقاومت ویژه پسبینی برای دادههای دو بعدی مقاومت ویژه الکتریکی
نویسندگان
1 موسسه ژئوفیزیک دانشگاه تهران
2 گروه فیزیک، واحد نجف آباد، دانشگاه آزاداسلامی
doi
چکیده
در این مقاله بهمنظور به دست آوردن سریع یک تصویر مقاومت ویژه زیرسطحی تقریبی از منطقه تحت مطالعه و بهعنوان یک مدل اولیه در روش وارونسازی جهت کاهش ابهامات، روش تصویرسازی مقاومت ویژه پسبینی بهعنوان یک روش وارونسازی سریع دادههای دو بعدی بررسی میشود. ابتدا وارونسازی خطی ماتریس مقادیر مقاومت ویژه ظاهری با حل حداقل مربعات با یکبار تکرار حاصل میشود. سپس، بر اساس نتایج بهدستآمده، یک فیلتر همبستگی به ماتریس ژاکوبین، با هدف کاهش یکنواختی اعمال میشود و وارون حداقل مربعات میرای خطی تکرار میشود تا نتیجه نهایی به دست آید. این روش تصویربرداری سریع را میتوان برای حصول سریع نتایج مقدماتی مورد استفاده قرار داد. روش مدلسازی وارون مطرح شده در این مقاله برای دادههای مقاومت ویژه ظاهری دو مدل مصنوعی محاسبه شده با چهار آرایه ونر- شلومبرژه، ونر، دوقطبی- دوقطبی و قطبی- دوقطبی مورد بررسی قرار میگیرد و با نتایج حاصل از وارونسازی استاندارد کمترین مربعات نرمافزار RES2DINV مقایسه میشود. نتایج حاصل از تصویرسازی مقاومت ویژه پسبینی نشان میدهند که این روش برای دادههای مقاومت ویژه ظاهری آرایههای ونر- شلومبرژه و ونر عملکرد بهتری ارائه میدهند. بر این اساس، دادههای واقعی مقاومت ویژه ظاهری اندازهگیری شده با آرایه ونر- شلومبرژه جهت تصویرسازی یک لوله بتنی انتقال آب با روش ذکر شده مورد تحلیل قرار گرفت که عمق مرکز لوله در حدود 8/1 متر تخمین زده میشود.