بررسی مشخصات نوری و ساختاری نانولایه‌های ZnO:Er تهیه شده به روش سل ـ ژل

نویسندگان

1 دانشکده مواد و متالورژی، دانشگاه علم و صنعت

2 دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات

3 مرکز تحقیقات مخابرات ایران

4 گروه مواد، دانشگاه بین‌المللی امام خمینی(ره)

doi
چکیده

لایه‌های نازک اکسید روی آلاییده شده به اربیم در مخابرات نوری کاربردهای متعددی دارد. لایه‌های نازک اکسید روی با روش سل- ژل از طریق غوطه‌وری بر سطح زیرلایه‌های‌ شیشه‌ای از جنس سودالایم لایه‌نشانی شد. به منظور بهینه‌سازی خواص نوری لایه‌ها، از آلاینده اربیم با غلظت‌ها و دماهای پخت مختلف استفاده شد. مشخصات لایه‌ها با روش XRD و اسپکتروفوتومتری مورد بررسی قرار گرفت. در همه لایه‌ها، ساختار بلوری هگزاگونال وورتزیتZnO با اندازه دانه nm19-14 و درصد عبور نور بالاتر از 80% در محدوده nm1750-750 به‌دست آمد. به طور کلی افزایش دمای پخت تا دمای C550 و افزایش غلظت اربیم تا حد 3% عبور نور لایه‌ها را بهبود بخشید.