تنظیم ضریب جذب غیرخطی بلور فوتونی یک بعدی شامل نقص لایه گرافن
نویسندگان
1 دانشجوی کارشناسی ارشد، فیزیک، دانشگاه الزهرا
2 استادیار، گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا
3 دانشیار، گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا
doi
چکیده
امروزه نانوساختارهای گرافن استعداد چشمگیری برای استفاده در کاربردهایاپتوالکترونیک غیرخطی مانند فیلترهای باندگذر باریک از خود نشان دادهاند. در این مقاله، میزان جذب غیرخطی بلور فوتونی یک بعدی شامل لایههای دیالکتریک Ta2O5 و SiO2 و لایه گرافن به عنوان نقص ساختار که دارای خاصیت غیرخطی نوری است، از جنبه نظری بررسی شده است. به دلیل پذیرفتاری غیرخطی مرتبۀ سوم قوی گرافن، اثر اپتیکی کر یکی از اثرات غالب در ساختار مورد مطالعه است. نتایج مطالعات نظری حاکی از آن است که میزان جذب ساختار با تغییر دورۀ تناوب، قطبش، زاویۀ فرود و شدت نور فرودی تنظیمپذیر است. محاسبات نشان میدهد که در طول موج 818 نانومتر میتوان به دو مقدار جذب 99/0 و صفر به ترتیب در شدتهای کمتر از و در شدتهای بالاتر از دست یافت. بررسی نظری ساختار در ناحیۀ طول موج مرئی با روش ماتریس انتقال، TMM، انجام شده است.