تحلیل ریز ساختار و خواص اپتیکی سامانه چند لایه ای Ta2O5/Cu/V2O5
نویسندگان
1 دانشگاه لرستان
2 دانشگاه اصفهان
3
doi
10.22034/issst.2025.2051618.1638چکیده
در این پژوهش سامانه چند لایه ای Ta2O5/Cu/V2O5به روش تبخیر حرارتی بر روی زیر لایه شیشه رشد و در دماهای بین350 تا550 درجه سانتیگراد با بازه ℃50 بازپخت شده است. آهنگ لایه نشانی برای لایههای T2O5و 0.1nm/s ،V2O5 و برای لایه مس، 0.05 nm/s اتخاب شده است. ریز ساختار ماده چند لایه ای Ta2O5/Cu/V2O5با تحلیل نمایه پراش پرتوهای x مشاهده شده و نرم افزار Fullprof تعیین شده اند. با مطالعه طیف مرئی – فرابنفش نمونه ها، به بررسی خواص نوری و همچنین تأثیردمای بازپخت بر خواص نوری آنها پرداخته شده است. از جمله خواص اپتیکی مورد بررسی در این پژوهش می توان به طیف عبور، طیف جذب، طیف بازتاب، انرژی گاف، ضریب خاموشی و ضریب شکست اشاره کرد. سپس تأثیر متقابل کمیتهای ریز ساختار بر خواص نوری لایهها مطالعه شده است. بررسیها نشان میدهد با افزایش دمای باز پخت، اندازه بلورک نمونهها افزایش و اندازه کرنش کاهش می یابد. با افزایش دمای باز پخت درصد عبور و انرژی گاف کاهش و همچنین ضریب خاموشی افزایش می یابد.