تحلیل همزمان پیری تصادفی ترانزیستورها و نوسان فرآیند در سیستمهای دیجیتال با توسعه مدل یادگیری ماشین برای سلولهای استاندارد
نویسندگان
1 دانشکده مهندسی- واحد بیرجند - دانشگاه آزاد اسلامی
2 دانشکده مهندسی- واحد بیرجند - دانشگاه آزاد اسلامی
3 دانشکده مهندسی- واحد بیرجند - دانشگاه آزاد اسلامی
4 دانشکده مهندسی- واحد بیرجند - دانشگاه آزاد اسلامی
doi
10.61186/jiaeee.22.1.65چکیده
امروزه قابلیت اعتماد یکی از چالشهای اساسی در طراحی مدارات نانومتری است. پیری ترانزیستورها و نوسان فرایند دو عامل مهم مؤثر بر قابلیت اعتماد هستند. باگذشت زمان ترانزیستورها پیر میشوند به این معنی که مشخصات ترانزیستورها و به طور ویژه ولتاژ آستانه آنها تغییر میکند که سبب افزایش تأخیر میگردد. این افزایش ...
