طراحی لچ کاملاً مقاوم در برابر SEDU با قابلیت فیلترکردن خطای گذرای ورودی با استفاده از C-Element تقویت‌شده

نویسندگان

1 دانشکده مهندسی برق- دانشگاه گیلان

2 دانشکده مهندسی برق- دانشگاه گیلان

doi
10.66224/jiaeee.22.4.131
چکیده

با کاهش ابعاد ترانزیستورها، ولتاژ تغذیه و ظرفیت خازنی گره‌ها در فناوری‌های کوچک ‌مقیاس، حساسیت مدارات دیجیتال نسبت به خطاهای نرم، شامل خطای گذرای ورودی، تک‌ رخداد یک ‌گره ‌واژگونی و تک ‌رخداد دو ‌گره ‌واژگونی، به ‌طور چشمگیری افزایش می‌یابد؛ از این رو طراحی لَچ‌های مقاوم برای حفظ قابلیت اطمینان و پایداری ...