امکان سنجی استفاده از ویژگیهای خازنی برای تعیین میزان رسیدگی سیب

نویسندگان

1 استاد گروه مهندسی بیوسیستم، دانشگاه شیراز

2 استادیار گروه مهندسی بیوسیستم دانشگاه شیراز

3 دانشجوی کارشناسی ارشد گروه مهندسی بیوسیستم، دانشگاه شیراز

4 دانشجوی کارشناسی ارشد گروه مهندسی بیوسیستم، دانشگاه شیراز

doi
10.22059/ijbse.2018.218246.664861
چکیده

درجه‌بندی محصولات کشاورزی بر اساس رسیدگی برای بسیاری از میوه ها و سبزیجات از اهمیت ویژه­ای برخوردار است. روش‌های مختلفی برای تشخیص میزان رسیدگی میوه به کار گرفته شده است که بعضی مخرب و برخی دیگر غیر مخرب هستند. در این تحقیق برای تعیین رسیدگی میوه‌ی سیب در دوران انبارمانی بر اساس ویژگی‌های ظرفیت خازنی ابتدا یک سامانه‌ی آزمایشگاهی به منظور اندازه‌گیری ظرفیت حسگر خازنی طراحی و ساخته شد. سپس مدلی برای استخراج ثابت دی‌الکتریک سیب پیشنهاد گردید و در ادامه رابطه‌ی بین ثابت دی‌الکتریک و میزان رسیدگی میوه بررسی شد. نمونه‌ها از سیب پائیزه رقم رد دلیشز و گلدن دلیشز انتخاب شدند. تمام نمونه‌های بالغ در یک روز برداشت شدند و هر کدام از ارقام به سه گروه 45 تایی، و هر گروه به سه دسته 15 تایی کوچک، متوسط و بزرگ تقسیم شدند. ثابت دی‌الکتریک سیب در طی رسیدن میوه در شرایط کنترل شده دما و رطوبت اندازه‌گیری شد. نتایج  این مرحله نشان داد ثابت دی‌الکتریک در طی رسیدن میوه کاهش می‌یابد. به عبارت دیگر در بسامد kHz 100 ثابت دی‌الکتریک در طی رسیدن میوه روند کاهشی منظمی را دنبال کرده و ازین رو این اطلاعات ذیقیمت است. ادامه­ی مطالعات از جمله بررسی رابطه "زمان رسیدن- میزان مواد جامد محلول" و "زمان رسیدن – استحکام" در این بسامد انجام گرفت. نتایج این مرحله نشان داد که استحکام در طی رسیدن میوه روند کاهشی دارد و میزان مواد جامد محلول (TSS) در طی مراحل رسیدن روند افزایشی را طی می کند.